超音波厚さ測定器の原理

超音波厚さ測定器厚さ測定のための超音波パルス反射の原理に基づいています、プローブがテストされる材料オブジェクトインターフェースを通して超音波パルスを送信したとき、パルスは材料の超音波伝播時間の正確な測定を通してプローブに反射されます。材料の厚さ超音波を一定の速度で伝播させることができるあらゆる種類の材料をこの原理によって測定することができる。超音波厚さ計は主にホストとプローブの2つの部分から構成されています。プローブは主にで構成されています圧電セラミック素子。超音波厚さ測定器の基本原理：厚さ測定のために主に超音波パルス反射の原理に基づいています、プローブがテストされる材料オブジェクトインタフェースを通して超音波パルスを送信するとき、パルスは正確な測定を通してプローブに反射されます試験中の材料の厚さを決定するための材料中の超音波伝播時間の測定。超音波を一定の速度で伝播させることができるあらゆる種類の材料をこの原理によって測定することができる。の設計の原則に従って超音波厚さ計 正確な測定のために、さまざまなプレートおよびさまざまな処理部品を使用できます。